판매용 중고 ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY / AIT CMT-SR2000N #9302563

ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY/AIT CMT-SR2000N Prober는 광범위한 전기 매개변수를 사용하여 장치 성능 매개변수를 효과적으로 측정할 수 있도록 설계된 첨단 장치입니다. 이 프로버 (Prober) 는 컴포넌트에 위험이 없는 정확한 측정에 사용될 수있는 고급 Probing 기능을 가지고 있습니다. 이 장비는 더 넓은 범위의 조정 가능 매개변수 (adjustable parameter) 를 통해 광범위한 전기 테스트 기능을 제공합니다. AIT CMT-SR2000N 프로버 (Prober) 를 사용하여 소형 및 대형 샘플의 성능을 측정할 수 있으며, 이 장치에 대한 정확하고 포괄적인 평가를 가능하게 합니다. ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY CMT-SR2000N Prober에는 뛰어난 정확성과 신뢰성을 위한 다양한 기능을 제공하도록 설계된 여러 구성 요소가 있습니다. 광학 센서 어레이에는 펄스 너비 (pulse width), 상승 시간 (rise time), 낙하 시간 (fall time) 과 같은 중요한 매개변수를 측정하도록 설계된 다양한 광학 채널이 포함되어 있습니다. 광학 채널은 또한 테스트 환경의 온도 및/또는 압력을 모니터링하는 데 사용됩니다. 또한 여러 광학 "센서 '" 어레이' 는 정확 한 측정 에 적합 한 "이미지 '신호 를 제공 하도록 설계 되었다. CMT-SR2000N prober는 특정 응용 프로그램 요구 사항에 맞게 조정 할 수있는 정밀 현미경 시스템을 사용합니다. 이 광학 현미경 장치 (optical microscopy unit) 는 측정 중인 전기 매개변수의 감지 및 측정 정확도를 최적화하도록 설계되었습니다. 조정 가능한 광학 머신 (Optics Machine) 과 고해상도 카메라 (High-Resolution Camera) 의 조합으로 샘플의 자세한 이미지를 캡처하여 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY/AIT CMT-SR2000N Prober는 다양한 기능으로 설계되어 매우 다양합니다. "마이크로스코프 '조정 을 위한 조정 가능" 터렛' 은 "이미지 '의 해상도 와 정확도 를 최대화 할 수 있다. 전극 배열 (electrrode array) 은 효율적인 샘플 접촉을 제공하여 샘플의 전기 특성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 다중 전극 배열은 또한 샘플의 병렬 측정을 가능하게한다. 견본 정렬 및 설정을 위한 개별적으로 제어 가능한 고정밀 (High-Precision) 포지셔닝 시스템은 뛰어난 반복성을 위해 절대 위치 정확도를 보장합니다. AIT CMT-SR2000N Prober는 통합 데이터 획득 소프트웨어 도구를 제공합니다. 이 첨단 소프트웨어를 통해 사용자는 쉽게 샘플 데이터를 수집 할 수 있습니다. LabVIEW 인터페이스 (옵션) 를 사용하면 자산을 효율적으로 사용하고 제어할 수 있습니다. 직관적인 사용자 인터페이스는 손쉽게 탐색할 수 있는 GUI (그래픽 모델 구성) 를 제공합니다. 통합 데이터 로깅 (Integrated Data Logging) 장비를 사용하면 포괄적인 분석 및 평가를 위해 손쉽게 데이터를 수집할 수 있습니다. ADVANCED INSTRUMENT TECHNOLOGY CMT-SR2000N Prober는 가장 정확한 장치 성능 매개 변수 측정을 위해 설계된 최첨단 장치입니다. 첨단 기술력을 갖춘 이 시스템은 다양한 기능과 기능을 제공하여 탁월한 정확성과 안정성을 제공합니다. CMT-SR2000N Prober는 고급 광 장치 (Advanced Optical Unit), 조절 가능한 전극 어레이, 통합 데이터 획득 소프트웨어 (Integrated Data Acquisition Software) 를 사용하여 포괄적이고 혁신적인 측정 도구입니다.