판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 410 #293653275

ACCRETECH/TSK MHF 410은 반도체 산업을 위해 설계된 고정밀 표면 전문가입니다. 고해상도 광학 간섭법 (Optical Interferometry) 을 사용하여 표면 피쳐의 작은 변화를 극도로 정확하게 측정합니다. 돌출, 평면, 선 너비, 서피스 마무리 및 스크래치 깊이와 같은 매개변수를 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 이 프로버는 평평한 스테이지가 안정적이고 진동이없는 기계적 기지에 있습니다. 정확한 X-Y-Theta 스테이지 이동이 가능하며, 고해상도 인코더는 정확하고 정확한 정렬을 보장합니다. 프로버 (Prober) 는 또한 샘플의 정확한 위치를 찾는 데 도움이 되는 내비게이션 시스템을 갖추고 있습니다. TSK MHF 410은 AC 커플 링 l 및 HeNe 레이저를 사용하여 현미경 표면 토폴로지의 높이 프로파일의 작은 변화를 측정합니다. 정밀도와 정확도가 높은 다각도 측정 데이터 포인트 (multi-angular measurement data point) 를 표시할 수 있으며, 표면 토폴로지의 중요한 분석을 위해 개별 측정의 각도 데이터를 표시할 수 있습니다. 프로버는 또한 이중 축 기울기 메커니즘을 사용하여 객체의 회전 정렬을 측정합니다. 이렇게 하면 표면상의 동일한 벡터를 유지하면서 이동을 보장하는 정확하고 정확한 회전 (rotation) 측정이 가능합니다. 또한이 검사는 영역 검출 알고리즘, 가드 검출 (guard detection) 및 라인 에지 검출 시스템 (line edge detection system) 을 포함한 다양한 분석 기능을 갖추고 있습니다. ACCRETECH MHF 410은 반도체 장치, 집적 회로 및 기타 마이크로 부품을 평가하는 데 이상적인 선택입니다. 광범위한 크기 (0.001 - 10000 "m) 이상의 기능을 측정 할 수 있습니다. 제공되는 데이터는 매우 정확하며 GUI 를 통해 실시간으로 표시됩니다. 또한 텍스트 또는 Excel 형식으로 데이터를 내보낼 수 있습니다. 사용하기 쉽고 사용자 친화적인 MHF 410은 마이크로 (micro) 컴포넌트를 조사하고 측정할 수 있는 탁월한 선택입니다. 첨단 광학과 정확한 측정 능력을 갖춘 이 프로버 (Prober) 는 모든 반도체 실험실에는 없어서는 안될 도구입니다.