판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 300L #293664536

ACCRETECH/TSK MHF 300L prober는 고급 반도체 장치에서 초소형 회로를 조사하기 위해 설계된 고급 웨이퍼 프로브 솔루션입니다. 이 Prober는 여러 테스트 포인트를 동시에 테스트 할 수있는 TSK 독점 마이크로파 주파수 분포 솔루션을 갖추고 있습니다. 이 프로버는 또한 12 웨이퍼 용량, MES 다중 레벨 열 교환기 및 단계 및 반복 샘플링 장비를 갖추고 있습니다. 또한, 프로버는 움직임의 정확한 제어 및 작은 구조의 정확한 프로브 (probing) 를 제공하면서 프로브 시간을 줄이기 위해 설계된 5 축 자동 모션 시스템을 자랑합니다. TSK MHF300L Prober는 업계 표준을 충족하고 USP Class III 요구 사항을 준수하며 SEMI E98을 전기적으로 준수합니다. Prober에는 샘플 길이 (옵션) 와 유형 검출기 (유형) 및 자동 교정 모듈 (옵션) 도 있습니다. 또한 ACCRETECH MHF 300 L Prober는 사용자 친화적 인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 로 설계되었으며, 최대 3 년간의 테스트 데이터를 저장 및 분석할 수 있습니다. MHF300L Prober는 게이트 어레이, 아날로그, 디지털, 고밀도, 저밀도 및 묻힌 채널을 포함한 다양한 테스트 옵션을 제공합니다. 이러한 기술은 ACCRETECH 채널 인터리브 (interleaving) 기능과 높은 정확도의 기존 및 마이크로파 프로빙 구성과 함께 수행됩니다. Probe 카드에는 Prober의 성능과 안정성을 향상시키는 몇 가지 독특한 기능이 있습니다. 여기에는 여러 가지 유형의 가드 링, 크로스 토크 제거 장치 (crosstalk elimination unit) 및 최적의 신호 무결성을 위해 유도 일치 차동 증폭기가 포함됩니다. 또한 ACCRETECH/TSK MHF300L 프로버의 고유 한 기능을 통해 효율적인 고주파 프로브를 구현하고 최소 크로스 토크를 사용하여 인접한 여러 요소를 조사 할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 테스트가 적시에 정확하고 적절하게 완료되도록 수많은 매개변수로 미리 로드됩니다. ACCRETECH MHF300L Prober에는 저소음 증폭기, 진단용 결함 인터셉트 머신, 데이터 스트림 테스트를위한 어레이 인터페이스 기능도 있습니다. 간단히 말해, TSK MHF 300 L prober는 고급 반도체 장치에 대해 빠르고 정확하며 안정적인 테스트를 제공하는 최첨단 웨이퍼 프로브 솔루션입니다. 다양한 테스트 옵션, 높은 정확도, 사용자 친화적 인터페이스, 고급 기능을 갖춘 MHF 300 L Prober는 최신 반도체 생산 및 테스트의 까다로운 요구를 충족하도록 설계되었습니다.