판매용 중고 PHILIPS / FEI DB235 #293616080

제조사
PHILIPS / FEI
모델
DB235
ID: 293616080
빈티지: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM) (2) GIS Detectors: SED, TLD, CDEM, STEM 2002 vintage.
PHILIPS/FEI DB235는 마이크로 전자 부품을위한 정밀 표면 연마 (또는 "스퍼터링") 를 위해 설계된 이온 밀링 장비입니다. 이 밀링 시스템은 고도로 집중된 이온 빔 (ion beam) 을 사용하여 기본 기판 재료를 손상시키지 않고 표면에서 미세한 규모의 결함을 제거합니다. 이온 빔은 이온 소스에 의해 생성되며, 이는 진공 챔버에 결합된다. "이온 '광선 의 크기 와 모양 을 조절 하기 위하여 진공실 의 입구 에 조정 가능 한 조리개" 플레이트' 가 설치 된다. 이온 빔 (ion beam) 은 일련의 렌즈에 의해 집중되고 지시되며, 직경이 일반적으로 5 미크론 이하인 미세 빔 (fine beam) 을 만듭니다. 이 장비로, 부품은 1 미크론 이상의 정밀도로 밀링 될 수 있습니다. 밀링 유닛의 프로그래밍을 통해 스퍼터링 (sputtering) 의 깊이, 이온의 방향, 스퍼터링 (sputtering) 의 속도를 조정할 수 있습니다. 밀링 조건을 조정하여 미세 (fine) 나 조악한 연마 (coarse polishing) 를 달성 할 수 있습니다. 또한, FEI DB235 기계에서, 이온 소스 전원은 다른 기판 및 결함 제거 패턴을 수용하기 위해 빔 에너지를 변화시키기 위해 조정 될 수있다. 이 도구에는 여러 가지 안전 기능이 있습니다. 안전 "셔터 '는" 빔' 이 사용 되고 있지 않을 때 그 광선 이 활발 하지 않게 한다. 챔버 내 자동 클리닝 에셋 (automated cleaning asset) 은 내부 서피스를 주기적으로 스크러빙하여 밀링 프로세스 중에 오염이 컴포넌트로 쉽게 전달되지 않도록 합니다. PHILIPS DB 235 모델은 고밀도 집적 회로 및 MEMS 생산을 포함한 많은 마이크로 일렉트로닉 응용 프로그램에 이상적입니다. 이 장비는 정밀 밀링 (precision milling) 과 표면 연마 (surface polishing) 를 위한 비용 효율적인 솔루션으로 입증되었으며, 따라서 연구 및 산업 상황 모두에서 사용될 수 있습니다.
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