판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #9190447

ID: 9190447
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2010
Memory testers, 12" SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF) 2. 768DR+512I/O(FULL) 3. 960DR+640I/O(FULL) 4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD TYPE 0.NO BOARD 1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP) 2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP) PIN 1 13 25 CHILD A1 ....> 1 1 1 CHILD A3 ....> 1 1 1 CHILD B1 ....> 1 1 1 CHILD B3 ....> 1 1 1 CHILD C1 ....> 1 1 1 CHILD C3 ....> 1 1 1 CHILD D1 ....> 1 1 1 CHILD D3 ....> 1 1 1 CHILD E1 ....> 1 1 1 CHILD E3 ....> 1 1 1 CHILD F1 ....> 1 1 1 CHILD F3 ....> 1 1 1 CHILD G1 ....> 1 1 1 CHILD A1 ....> 1 1 1 CHILD A3 ....> 1 1 1 CHILD B1 ....> 1 1 1 CHILD B3 ....> 1 1 1 CHILD C1 ....> 1 1 1 CHILD C3 ....> 1 1 1 CHILD D1 ....> 1 1 1 CHILD D3 ....> 1 1 1 CHILD E1 ....> 1 1 1 CHILD E3 ....> 1 1 1 CHILD F1 ....> 1 1 1 CHILD F3 ....> 1 1 1 CHILD G1 ....> 1 1 1 CHILD G3 ....> 1 1 1 CHILD H1 ....> 1 1 1 CHILD H3 ....> 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU 1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FM TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2 NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8 SIZE OF FMRA BOARD [1:1G, 2:4G] ....................> 1 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1 END SAVE Include: Mother board 2010 vintage.
ADVANTEST T 5371은 광범위한 반도체 장치에 적합한 최고 시장 테스트 최종 테스트 장비입니다. 완벽한 자동화, 사용 편이성, 신뢰성, 비용 효율적인 솔루션으로, 모든 최종 테스트 요구 사항을 충족하며, 단일 디바이스에서 여러 가지 테스트를 수행할 수 있습니다. 이는 고속 신호 응답 테스트, 고정밀 측정 성능, 효율적인 자원 활용 기능을 활용하여 얻을 수 있습니다. 장점 T5371은 모듈식 구조와 사용 가능한 다양한 CMC (Custom Micro-Controller) 를 갖추고 있습니다. CMC (High Speed Signal Response Testing) 를 통해 시스템은 최대 4 개의 기술에 대한 고속 신호 응답 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 또한 CMC 에는 디지털 신호 처리, 신호 제어 기능, 사용자 지정 암호화 (Customized Encryption) 등 다양한 고급 기능이 통합되어 있습니다. T 5371 은 신뢰성이 높은 신호 응답 테스트 (signal response testing) 기능과 더불어 측정 성능에서 매우 높은 수준의 정확성과 반복성을 제공합니다. T5371은 고정밀 부동 소수점 프로세서, 매우 정밀한 증폭기, 다양한 정밀 아날로그-디지털 변환기 등 다양한 단계를 활용합니다. 이러한 컴포넌트는 매우 정교한 신호 대 노이즈 (signal-to-noise) 및 간섭 억제 알고리즘과 연결되어 모든 테스트 주파수에서 매우 정확한 측정이 가능합니다. ADVANTEST T 5371 에는 다양한 자원 활용도 툴이 포함되어 있어 테스트 작업 중에 자원을 가장 효율적으로 사용할 수 있습니다 (영문). ADVANTEST T5371에는 다중 세션 작업, 다중 제품 운영, 다중 테스트 방법 등 여러 테스트 모드가 포함되어 있어 하드웨어/소프트웨어 자원을 효율적으로 활용할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 다양한 사용자 정의 (customization) 옵션을 지원하므로 각 제품에 대해 고유한 자동화 프로세스를 설계할 수 있습니다. 지속적인 고품질 테스트 결과를 얻기 위해 T 5371 에는 고급 내결함성 모니터링 시스템 (fault-tolerant monitoring machine) 이 장착되어 있습니다. 이 툴은 자산이 성능 목표를 충족하지 못하거나 유지 보수가 필요할 때 사용자를 검색, 모니터링, 경고하도록 설계되었습니다. T5371 은 업계 최고의 최종 테스트 모델로, 테스트 요구에 적합한 효율적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다. 신뢰할 수 있고, 사용하기 쉽고, 정확성이 높은 장비로, 광범위한 반도체 장치 테스트에서 뛰어난 결과를 제공하는 것으로 입증되었습니다.
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