판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9311747

ADVANTEST T 5335P
ID: 9311747
빈티지: 1996
Memory tester Temperature range: 150°C Tester processor: TP4 OS Rev: ASX/U-50: 6.04-1 SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02 DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G TH1: 650 No OP1 Pin card No OP2 Pin card TH2: 650 No OP1 Pin card No OP2 Pin card DPU: TH1 DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 TH2: DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 FM: 144 M (2) FM Boards Size of FM module: 1 M Memory bank (4) Memory blocks No patten memory BGR-020816 FM Board MRA: MRA Option: MRA2 Type of CBU board: BGR-019267 (2) CBU Boards Type of FBM board: 2 M, 72 Bit (4) FBM Boards No compression function FCDC: Flash option BGR-020774 SC Board 1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P는 집적 회로 및 장치 테스트를 위해 설계된 고급 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 입니다. 이 테스트 시스템은 반도체 제조 시설의 엔지니어, 엔지니어, 운영 직원이 사용할 수 있습니다. 특히 고속 및 고속 디바이스 테스트에 적합합니다. 테스트 유닛은 복잡한 iC 디자인을 포함하여 논리, 혼합 신호 및 RF IC를 테스트 할 수 있습니다. 정적 및 동적 테스트, 고속 테스트, 패라메트릭 테스트, RF 테스트 등 다양한 ATE 기능을 지원합니다. 이 기계는 또한 고밀도 장치 및 혼합 신호 집적 회로 테스트에 대한 LP (ultra-parallel) 및 GP (parallel) 프로그래밍 테스트를 지원합니다. 장점 T5335P는 여러 장치를 사용하여 처리 속도와 정확도를 향상시킵니다. EPLC (Electrically Programmable Logic Controller) 는 테스터 인터페이스의 직접 프로그래밍을 가능하게하며, 장치 드라이버 소프트웨어를 통해 모든 장치를 빠르고 쉽게 프로그래밍할 수 있습니다. 고급 테스트 패턴 언어 (명령 순서 포함) 는 복잡한 장치에 대한 초고속 (초고속) 테스트를 가능하게 합니다. T 5335 P는 또한 장치 성능에 대한 데이터 수집 및 분석을 지원합니다. 고속 네트워크 통신 인터페이스는 분산 아키텍처 테스트 스테이션 (Distributed Architecture Test Station) 및 계기 (Instrumentation) 를 지원하므로 고속 테스트 실행 및 원격 액세스가 가능합니다. 이 기능을 사용하면 기존의 수동 테스트 프로세스 (수동 테스트 프로세스) 보다 오류가 적은 작업을 신속하게 실행할 수 있습니다. 이 툴은 모듈식 (modular) 하드웨어 설계를 통해 최신 디바이스 모듈을 손쉽게 구성할 수 있습니다. 개방형 아키텍처는 여러 인터페이스 보드를 지원하므로, 고속 테스트를 위해 여러 디바이스 인터페이스 (device interfacing) 를 혼합할 수 있습니다. FED (Flexible Extensible Design) 아키텍처를 사용하면 새로운 장치 모듈, 추가 보드 기능 및 추가 I/O 인터페이스를 손쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 정교한 장치 및 응용 프로그램 프로그래밍의 경우, ADVANTEST T 5335 P에는 자체 소프트웨어 언어가 장착되어 있습니다. 이를 통해 디버깅, 설정, 결과를 완벽하게 통합하여 테스트 시퀀스 및 디바이스 상호 작용을 간단하게 프로그래밍할 수 있습니다. 모든 지침은 매우 정밀하게 실행할 수 있으며, 제어 자산 (control asset) 은 모든 테스트 기능과 결과를 모니터링하도록 설계되었습니다. 이 모델은 빠르고 쉽게 유지 관리할 수 있도록 설계되었습니다. 사용자 친화적 그래픽 사용자 인터페이스는 사용 편의성과 접근성을 위해 설계되었습니다. 이 제품은 변화하는 고객 또는 업계 테스트 요구에 맞게 신속하게 수정할 수 있으며, 이 장비는 매우 다양하고 확장성이 뛰어납니다 (영문). T5335P는 강력하고 신뢰할 수 있는 Final Test System으로, 가장 까다로운 테스트 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 광범위한 Testing and Programming (테스트 및 프로그래밍) 기능을 갖춘 이 장치는 통합 회로 및 장치 제조업체에 필수적인 도구입니다. 모듈식 하드웨어 설계, 유연한 프로그래밍 언어, 고급 테스트 패턴 언어 (Advanced Test Pattern Language), 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 정교한 테스트 및 분석을 위한 필수적인 선택입니다.
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