판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9311741

ADVANTEST T 5335P는 반도체 장치에 테스트 기능을 제공하도록 설계된 최종 테스트 장비입니다. 최대 10 개의 테스트 헤드를 지원하는 구성 가능한 고속 테스트 플랫폼 (Configurable, High Speed Test Platform) 을 통해 테스트 프로세스를 최적화하여 테스트 처리량 및 품질을 극대화할 수 있습니다. ADVANTEST T5335P는 스루홀 (through-hole) 장치 및 패키지, 마이크로 범프 (micro-bumps) 및 플립 칩 (flip) 테스트를 포함하여 다양한 장치 테스트 요구 사항에 대해 여러 유형의 테스트 헤드 모듈을 갖추고 있습니다. 또한 프로브 바늘의 고해상도 특수 프로그래밍 (DUT (device under test)) 을 사용하여 테스트 중인 장치와 정확하게 접촉하는 강력한 전동 프로버 (motorized prober) 가 특징입니다. T 5335 P 는 다양한 테스트 애플리케이션 소프트웨어 제품을 지원하므로 자체 테스트 프로그램과 애플리케이션을 빠르고 유연하게 개발할 수 있습니다 (영문). 여기에는 범용 장치와 특화된 고주파 (high-frequency) 테스트 프로그램으로, 기존 메모리 및 논리 장치와 MEMS, NFC와 같은 신흥 기술에 대한 특성화 및 생산 테스트가 모두 가능합니다. ADVANTEST T 5335 P의 하드웨어 및 소프트웨어 시스템 구성 요소는 함께 작동하여 빠르고 신뢰할 수 있는 고성능 테스트 유닛 (Test Unit) 플랫폼을 제공합니다. 이중 온보드 CPU는 두 CPU 간에 테스트 시퀀스를 나누어 테스트 실행을 가속화합니다. 또한 최대 72 채널의 병렬 자극과 아날로그 (Analog) 및 디지털 깔때기 (Digital Funneling) 를 지원하여 처리량을 높이기 위해 여러 테스트 포인트를 병렬로 테스트할 수 있습니다. T 5335P를 통해 고객은 최대 0.1 ~ 160mV의 넓은 동적 범위로 최대 4 시그마 이상의 테스트 정확도를 달성 할 수 있습니다. 이를 통해 데이터 정밀도가 높아 고객의 기대치를 초과하는 결과를 얻을 수 있습니다. T5335P는 고급 하드웨어 기능 외에도, 최대 16 랙의 테스트 장비로 구성할 수 있습니다. 이러한 구성 가능한 머신 (configurable machine) 을 통해 고객은 광범위한 테스트 모듈 (test module) 과 액세서리 (accessory) 를 액세스할 수 있습니다. ADVANTEST T 5335P (ADVANTEST T 5335P) 는 다양한 네트워킹 및 소프트웨어 옵션을 통해 고객에게 높은 수준의 유연성을 제공하여 테스트 프로그램과 어플리케이션을 맞춤형으로 구성할 수 있습니다. 포괄적인 서비스/지원 오퍼링을 통해 고객이 생산성을 유지하고 테스트 요구를 충족할 수 있도록 지원합니다.