판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E4407B #108787

ID: 108787
Spectrum analyzer, 9 KHz to 26.5 GHz Performance: 0.4 dB overall amplitude accuracy +16 dBm TOI -167 dBm DANL, with internal preamp (optional) 1 Hz narrow resolution bandwidth (optional) Five-minute warm up Variable sweep (trace) points Amplitude correction Automatic background alignment Tracking generator (optional) Amplitude correction Segmented sweep for up to 32 discontinuous spans in one sweep Rugged and portable for lab grade performance in the field Installed options: 1D5: High stability reference 1DN: Tracking generator 1DR: Narrow resolution bandwidths 1DS: Preamplifier to 3 GHz A4H: GPIB and CENTRONICS Interface B72: Add 8MB memory.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E4407B 전자 테스트 장비는 전자 테스트 솔루션에서 사용할 수있는 최고의 기기 중 하나입니다. 이 최첨단 기기는 신호 분석/신호 소스 측정, 벡터 변조/소스 스위칭, RF, 마이크로파, 밀리미터파 어플리케이션 등 다양한 기능을 제공합니다. 인체 공학적 설계와 직관적인 사용자 인터페이스를 통해, HP E4407B는 설정 시간을 최소화하고, 테스트 결과를 최대화하여, 다양한 테스트 시나리오에서 전자 부품을 빠르고, 정확하게 특성화할 수 있습니다. AGILENT E 4407B는 포괄적 인 신호 분석 및 신호 소스 측정 제품군을 제공합니다. 여기에는 고속 신호 캡처가있는 스윕 스펙트럼, 다중 추적 및 마커를 사용한 신호 분석, 위상, 주파수 및 IQ 테스트 신호를 사용한 벡터 변조, 빠른 테스트 설정을 위한 자동 소스 전환, 신호 모델 식별 및 신호 시뮬레이션을 사용한 신호 분석이 포함됩니다. 또한 E4407B는 RS232, LAN, GPIB와 같은 표준 인터페이스와 PC 및 PC 리모콘 (옵션) 을 통해 최대 6GHz의 테스트 시나리오를 위한 추가 측정 기능을 제공합니다. 마이크로파 및 밀리미터 파동 어플리케이션의 경우 AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E 4407B 전자 테스트 장비는 저상 소음, 놀라운 동적 범위, 0.01Hz의 주파수 해상도, 전체 재생 능력 및 전체 재생 능력, 최대 26.5GHz의 다양한 주파수 범위를 제공합니다. 정확한 주파수 (Frequency) 와 레벨 제어 (Level Control) 를 제공하고 가장 까다로운 테스트 매개변수를 측정하도록 설계되었습니다. 또한 최대 1000GHz의 광대역 스펙트럼 측정을 위해 HEWLETT-PACKARD E4407B에 다운 컨버터를 추가 할 수 있습니다. E 4407B에는 그래픽 다이어그램 제어, 전체 기능의 파형 생성기, 스윕 제어 생성기, 트리거링, 변조, 자동 시퀀스 테이블, 채널 스캐너, 채널 목록 및 채널 평균과 같은 다른 기능이 포함됩니다. 또한 HP E 4407B 는 테스트 시스템 소프트웨어와 함께 사용할 수 있는 광범위한 애플리케이션 라이브러리 (Library of Application Program) 를 제공합니다. 따라서 마우스 클릭 몇 번으로 서로 다른 신호를 빠르고, 정확하게 측정하고, 분석할 수 있습니다. 전반적으로, KEYSIGHT E4407B는 다목적 전자 제품 테스트 기구로, 산업 및 상업용 어플리케이션의 요구를 모두 충족하도록 설계되었습니다. 광범위한 주파수 범위, 직관적인 사용자 인터페이스, 다양한 기능을 갖춘 HEWLETT-PACKARD E 4407B 는 오늘날 테스트 시나리오에서 전자제품 구성요소를 빠르고 정확하게 특성화하는 데 필요한 모든 툴을 제공합니다.
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